刘金海
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上一条:刘金海*,付明芮,唐建华. 基于漏磁内检测的缺陷识别方法. 仪器仪表学报,37(11):2572-2581,2016.
下一条:Jinhai Liu*, Yifu Ren. A General Transfer Framework based on Industrial Process Fault Diagnosis under Small Samples. IEEE Transactions on Industrial Informatics. 17(9):6073 – 6083, 2021.