利用像差校正扫描透射电子显微术（HAADF/ABF-STEM）、电子能量损失谱（EELS）和原子级能谱（EDS），定量解析畴界、反相畴界、异质界面、层错、相界面等缺陷的原子与电子结构，结合第一性原理计算建立微观结构—电子结构—电学/铁电性能的定量关联。