中国专利, 于瑞云, 郭冰洋; 一种基于元学习模型的陶瓷封装基板表面缺陷检测方法, 2024.03.19, 授权, ZL202311684815.1.
发布时间：2025-07-07 点击次数：
专利名称：中国专利, 于瑞云, 郭冰洋; 一种基于元学习模型的陶瓷封装基板表面缺陷检测方法, 2024.03.19, 授权, ZL202311684815.1.
是否职务专利：否
上一条：中国专利, 于瑞云, 李婧萌, 李耒, 陈铭达; 基于自适应周期发现的工业母机加工工件质量预测方法, 2024.03.19, 授权, ZL202410004935.0.
下一条：中国专利, 于瑞云, 陈铭达, 李耒, 李婧萌;基于增强Transformer模型的芯片封装丝网印刷机的异常检测方法, 2024.03.01, 授权, ZL202311684815.1.
