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发布时间:2022-01-29 点击次数:
上一条:23. 姜辛,刘宝丹。一种降低氮化镓纳米线阵列晶体缺陷密度的方法。2012-07-06,中国,发明专利,专利号: ZL 201210234053.0
下一条:21. 吴爱民,姜辛,刘宝丹,林国强,李强,邹瑞洵,一种垂直布局制备金刚石膜的单阵列热丝装置,2014-05-30,中国,发明专利,专利号:ZL 201410239843.7