Overall list of experimetnal materials and labwares

Pro-47 SPM 扫描探针显微镜系统—可测STM、AFM、SCM、MFM等

适于薄膜、纳米材料、片状等绝缘至导体样品的表征分析

UV759S UV-Vis spectrameter

How to measure UV-Vis of small samples using it (测小基片光谱的方法)

技术参数

波长范围： 190nm～1100nm;    波长准确度：±0.5 nm;       波长重复性： ≤0.2nm;     透射比测量范围： 0～200%T;     吸光度测量范围： -0.301～4.000A;   透射比准确度： ±0.3%T;      透射比重复性： ≤0.15%T;     漂移： ≤0.001A/h（开机2h后，500nm处）;               基线直线性： ±0.002A （200nm～1050nm）;       杂光： ≤0.05% T;  噪声： 100%线噪声≤0.15%T；0% 线噪声≤0.1%T;             光谱带宽： 2nm/s .

分析测试及信息处理功能

光度测量; 光谱扫描; 定量分析; 多波长测定; 化学动力学测量;

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